전시회명 : ICCAD(International Conference on Computer-Aided Design)

전시장소 : 독일 뮌헨

참가일자 : 2025/10/26

참가자 : 부산대학교 석사과정 전기공학과 임예지 (지도교수 남일구)

전시품명 : CADathlon

10월 26일에 ICCAD 학회가 개막해서 CADathlon 세션에 참여했습니다. CADathlon은 컴퓨터 지원 설계(CAD), 특히 전자 설계 자동화(DEDA) 분야의 실질적인 문제들을 다루는 도전적인 종일 프로그래밍 대회입니다. EDA의 올림픽이라고 불리는 이 대회는 차세대 CAD 전문가들 중에서도 최고의 인재들을 한데 모았습니다. 도전적인 문제들에 대한 독특한 시각을 제공해서 우수한 대학원생들이 EDA 분야로 진출하도록 도왔습니다.

전시회명 : ICCAD(International Conference on Computer-Aided Design)

전시장소 : 독일 뮌헨

참가일자 : 2025/10/27

참가자 : 부산대학교 석사과정 전기공학과 임예지 (지도교수 남일구)

전시품명 : DIVE: Dynamic Information-Guided Variance Ecpansion for Deeper Analog Circuit Optimization

아날로그 회로설계에서 트랜지스터 사이즈 결정은 파라미터 공간이 너무 크고 시뮬레이션 비용이 비싸기 때문에 여전히 핵심적인 과제입니다.

해당 세션에서는 DIVE(Dynamic Information-Guided Variable Expansion)라는 프레임워크를 소개합니다. DIVE는 파라미터 최적화 문제를 정보 효율성 극대화 문제로 재구성합니다. 모든 파라미터를 동시에 탐색하는 기존 접근법과는 달리, DIVE는 가장 높은 정보량을 가진 설계 변수들을 점진적으로 포함시켜 최적화 공간을 확장합니다. Constraint-aware weighted mutual information analysis, Adaptive variable inclusion mechanism, Mutual information-guided kernel learning strategy의 세 가지 혁신적인 요소를 도입하여 2.69배의 spec 개선을 이룬 연구를 소개했습니다.

전시회명 : ICCAD(International Conference on Computer-Aided Design)

전시장소 : 독일 뮌헨

참가일자 : 2025/10/28

참가자 : 부산대학교 석사과정 전기공학과 임예지 (지도교수 남일구)

전시품명 : ZEROSIM: Zero-Shot Analog Circuit Evaluation with Unified Transformer Embeddings

최근 학습 기반 아날로그 회로 설계 자동화 분야에서 토폴로지 생성, 소자 크기 결정, 레이아웃 합성 등의 작업에 발전이 있었지만, 효율적인 성능 평가는 여전히 주요 병목 현상으로 남아있습니다.

전통적인 SPICE 시뮬레이션은 시간이 오래 걸리며 확장성과 적응성이 떨어집니다. 이 문제 해결을 위해 해당 세션에서는 ZEROSIM을 제안했습니다. ZEROSIM은 트랜스포머 기반의 성능 모델링 프레임워크로, 새로운 파라미터 구성에서도 학습된 토폴로지 전반에 걸쳐 견고한 분포 내 일반화를 달성하고, 아무런 미세 조정없이 이전에 보지 못한 토폴로지에 대해서도 zero-shot generalization을 이루도록 설계했습니다. ZEROSIM과 같은 AI 모델을 활용하여 아날로그 회로의 성능 예측 속도를 획기적으로 높이고, 설계 자동화의 확장성과 효율성을 극대화하는 최신 연구 동향을 보여주었습니다.

전시회명 : ICCAD(International Conference on Computer-Aided Design)

전시장소 : 독일 뮌헨

참가일자 : 2025/10/29

참가자 : 부산대학교 석사과정 전기공학과 임예지 (지도교수 남일구)

전시품명 : PCBFormer: Understanding 3D Structure of Real World PCB Traces for S-Parameter Prediction

신호 주파수가 증가함에 따라, 신호가 한 부품에서 다른 부품으로 얼마나 잘 전달되는지를 측정하는 지표인 신호 무결성이 최신 전자 제품에서 매우 중요해지고 있습니다. PCB 트레이스와 같은 채널의 전자기 특성을 모델링하기 위해 종종 S-parameter가 사용됩니다.

하지만 PCB 상의 부품 배치 변경 등 설계 변화로 인해 수많은 반복 작업이 필요합니다. 기존의 S-parameter 추출 방식은 계산 비용이 매우 높은 전자기 시뮬레이션에 의존하기 때문에 이는 설계 과정의 병목 현상이 되어왔습니다.